top of page
post-ai-image-2694.png
title2.png

Tech Trends &

Tech Trends &

ANALYSIS

ANALYSIS

[제20250908-TE-01호] 2025년 9월 8일 반도체 장비 관련 주요 뉴스 요약

이도윤
2025년 9월 9일
2분 분량

이오테크닉스, SK하이닉스 웨이퍼 절단 장비 공급 추진…메모리 3사 진입 목전

(2025년 9월 8일, 전자신문, 권동준 기자)


[핵심 요약]


[1] SK하이닉스 레이저 웨이퍼 절단 장비 성능 평가 진행

이오테크닉스가 SK하이닉스와 레이저 기반 웨이퍼 절단 장비 성능 테스트를 실시 중이며, 평가 완료 후 실제 공급 성사 여부가 결정될 전망.


[2] HBM4 등 첨단 메모리 공정 적용 목적

SK하이닉스는 차세대 고대역폭메모리(HBM) 공정에 이오테크닉스 장비를 활용할 계획으로, 첨단 미세 공정 수율·품질 향상이 목표임.


[3] 글로벌 3대 메모리사 진입 임박

이오테크닉스는 삼성전자와 마이크론에도 웨이퍼 절단 장비를 이미 공급하거나 공급 논의 중으로, 업계 ‘메모리 3사’ 공급망 진입이 목전에 있음.


[4] 블레이드→레이저 방식 전환 가속

블레이드 장비 대비 결함 최소화와 미세회로 영향 억제로 레이저 방식 수요 증가, 웨이퍼 두께가 얇아지는 HBM4 등에서 레이저 절단의 중요성 부각.


[5] 첨단 패키징 분야 경험·기술력 입증

이오테크닉스는 TSMC·앰코 등 글로벌 시스템 반도체·패키징 업체에도 장비 공급 경험이 있으며, 펨토초 레이저 등 첨단 기술 기반으로 경쟁력 높임



자이스, 하반기 EUV 포토마스크 검사 장비 韓 양산 적용

(2025년 9월 8일, 전자신문, 박진형 기자)


[핵심 요약]


[1] 자이스, 국내에 ‘에임즈 EUV 3.0’ 양산 도입

자이스가 올해 하반기 국내 반도체 제조사 양산라인에 극자외선(EUV) 포토마스크 검사장비 ‘에임즈(AIMS) EUV 3.0’을 본격 적용한다고 발표함.


[2] 포토마스크 결함 검사 중요성 강화

반도체 미세화 진전에 따라 포토마스크 결함 신속 검증과 수정이 더욱 중요해져, 결함 탐지·패터닝 과정의 품질관리 역할이 커지고 있음.


[3] 에임즈 EUV 3.0, 성능 및 호환성 대폭 향상

신제품은 기존 1.0 대비 처리 성능 3배 이상 향상, 노광 이미징 특성 평가 및 차세대 하이-NA EUV 노광장비와의 호환성도 확보함.


[4] 기술력 및 장비 안정성 강조

자이스는 인쇄 성능 평가와 결함 조기 검증·수정 기능으로 고객가치 제고와 안정적 양산 환경을 지원함을 약속함.


[5] 국내 반도체 산업 품질 관리 기여

이번 장비 도입으로 국내 반도체 제작사의 생산 품질 및 생산 효율이 한층 높아질 전망, 첨단 공정 경쟁력 강화 효과 기대됨

​뉴스레터 구독

icon

경기 수원 영통구 창룡대로256번길 77 (에이스광교타워3), B214호

Tel. 031-548-4402  | Fax. 031-548-4403 | Email. info@sptakorea.com

​​​

등록번호 : 경기,아54376 | 등록일자 : 2025년 04월 07일

사업자명 : 에스피티에이타임즈 | 발행/편집인 : 이종욱 | 청소년보호책임자 : 이종욱

​

© Copyright 2025 SPTA TIMES All Rights Reserved

bottom of page