[제20260520-TE-01호] 2026년 5월 20일 반도체 장비 관련 주요 뉴스 요약

아드반테스트, 차세대 AI·HPC 대응 테스트 카드 '핀 스케일 5000B' 출시

(2026년 5월 20일, 전자신문, 윤건일 기자)

[핵심 요약]

[1] AI·HPC용 신규 테스트 카드 공개

아드반테스트가 AI·고성능컴퓨팅(HPC) 반도체 테스트 플랫폼 ‘V93000 엑사(EXA) 스케일’용 신규 카드 ‘핀 스케일 5000B’ 출시 발표

[2] 칩렛 기반 반도체 테스트 대응 강화

첨단 공정과 칩렛 기반 이기종 집적 기술 확산에 따라 확대되는 테스트 커버리지와 대규모 데이터 처리 수요 대응 목적

[3] 메모리 용량 확장으로 비용 절감 지원

핀 스케일 5000B는 기존 대비 확장된 벡터 메모리 용량을 지원하며 칩렛 환경에서 메모리 사용 효율과 비용 절감 효과 제공

[4] 기존 테스트 환경과 호환성 확보

기존 테스트 프로그램과 하드웨어 구성을 유지한 상태에서 점진적 확장이 가능해 고객 투자 효율성 강화

[5] 병렬 테스트 성능 향상 강조

최신 스캔 패브릭 구조와 스트리밍 기반 데이터 공급 방식을 적용해 다수 IP 코어 병렬 테스트 성능 향상 지원